2025年3月20日，由中國儀器儀表學會分析儀器分會主辦的"質譜關鍵零部件技術研討會"在IMI蘇州工廠圓滿落幕，近40位高校、科研院所及質譜儀器企業(yè)的專業(yè)人員參會，共同探討質譜關鍵零部件的前沿技術與發(fā)展。
專業(yè)分享：質譜關鍵零部件設計結構和技術特點
IMI公司首席科學家 Aditya Wakhle 博士發(fā)表了題為《質譜倍增器技術及 SIMION 仿真軟件導
航：從基礎到前沿研發(fā)中針對不同應用的選擇》的精彩報告。作為原澳大利亞 ETP 公司的核心成員之一，他深入介紹了質譜倍增器在 GC/LC-MS（氣相/液相質譜）、ICP-MS（電感耦合等離子體質譜儀）、TOF（飛行時間質譜）以及 RGA（殘留氣體分析儀）等不同類型質譜儀器上的設計結構和技術特點。
Kenneth Wright 博士，IMI 公司質譜部件研究經理，其參與研制的 RGA 成為自 1972 年
以來首個登上月球的質譜儀。他分享了題為《通道式電子倍增器與增強型燈絲涂層在質譜應用中的耐用性研究》的主題報告，詳細闡述了通道式電子倍增器的技術原理、測試數(shù)據(jù)、最新設計思路以及增強型燈絲在實際應用中的研究經驗。
IMI 公司亞太區(qū)質譜核心部件技術研究與拓展經理趙秀苔女士，帶來了《高壓電源及其對質
譜儀性能的影響》的專題講解，剖析了高壓電源在質譜儀中的關鍵作用及其對儀器性能的影響。
現(xiàn)場交流：技術探討與互動
本次研討會采用“技術報告 + 現(xiàn)場提問研討”的形式。參會人員圍繞報告內容及實際工作中遇到的技術難題踴躍提問，問題涉及“離子歧視效應”、“電子倍增器特定部件的設計緣由與作用”、“倍增器增益的測量方法”、“SIMION 仿真軟件與其他軟件的對比優(yōu)勢”、“不同材質倍增器的耐用性對比”、“耐用性提升方法及原因”、“增益測量穩(wěn)定時間”等多個方面。IMI 專家團隊對這些問題進行了深入且開放的解答交流，現(xiàn)場討論氣氛熱烈。
會后，與會人員一同參觀了 IMI 蘇州工廠，實地了解了先進的生產設施與工藝流程。
本次研討會是新冠疫情后中國儀器儀表學會分析儀器分會組織的第一場國際交流活動，旨在為產業(yè)鏈上下游交流搭建平臺以及深入了解外企優(yōu)秀的產品設計理念和設計經驗。
鑒于本次活動報名踴躍，分會未來還將組織更多同類活動。敬請關注本分會官網（http://m.shhy99.com）或“中儀學分析儀器分會”微信公眾號。
